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- catalog alternative "Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis.".
- catalog alternative "Ellipsométrie 83.".
- catalog contributor b1318518.
- catalog created "[1983], c1984.".
- catalog date "1983".
- catalog date "[1983], c1984.".
- catalog dateCopyrighted "[1983], c1984.".
- catalog description "Includes bibliographical references and index.".
- catalog extent "xviii, 533 p. :".
- catalog hasFormat "Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces.".
- catalog identifier "2902731698".
- catalog isFormatOf "Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces.".
- catalog isPartOf "Journal de physique. Colloque ; 1983, C10.".
- catalog issued "1983".
- catalog issued "[1983], c1984.".
- catalog language "eng".
- catalog publisher "Les Ulis, France : Éditions de physique,".
- catalog relation "Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces.".
- catalog subject "Ellipsometry Congresses.".
- catalog subject "QC443 .C6 1983".
- catalog title "Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis, 7-10 juin 1983, Paris, France.".
- catalog title "Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis.".
- catalog title "Ellipsométrie 83.".
- catalog type "Conference proceedings. fast".
- catalog type "text".